• Positives Ende eines Geschäftsjahres und einer Ära
  • Die internationale Ausgabe der inspect kommt
  • EMVA Young Professional Award 2017 geht an Boaz Arad
  • Deep Learning: Rechnersehen auf einer höheren Stufe
  • Deep Learning-Schulung für Bildverarbeitungsentwickler
  • inspect award 2018: Mitmachen und Gewinnen

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inspect 03 2017

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Erscheinungsdatum: 12.06.2017
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