• Die internationale Ausgabe der inspect kommt
  • EMVA Young Professional Award 2017 geht an Boaz Arad
  • Deep Learning: Rechnersehen auf einer höheren Stufe
  • Deep Learning-Schulung für Bildverarbeitungsentwickler
  • inspect award 2018: Mitmachen und Gewinnen
  • Trends & Visions vom Embedded Vision Summit

Printausgabe

inspect 03 2017

inspect 03 2017

Erscheinungsdatum: 12.06.2017
Printausgabe bestellen

Die aktuelle Ausgabe jetzt für Abonnenten als E-Paper verfügbar.

Zur Ausgabe