Topstories-Übersicht | inspect-online - Bildverarbeitung und optische Messtechnik

22.04.2020
TopstoriesAutomation
Embedded Vision ist überall
Nach wie vor zählt Embedded Vision zu den innovativsten Segmenten der Bildverarbeitung. Sinkende Preise bei steigender Leistung stellen die perfekte Basis für das weitere Wachstum der Technologie dar. Sechs Experten diskutierten ...
21.04.2020
TopstoriesAutomation
Deep Learning verkürzt die eigene Lehrzeit
Rund 200 Besucher kamen Ende Februar auf Einladung von MVTec ins Haus der Bayerischen Wirtschaft nach München zum mittlerweile dritten Innovation Day. Das Programm versprach Neuigkeiten zum kommenden Release von Halcon 20.05, ...
20.04.2020
TopstoriesTopics
Schneller zur Serienfertigung durch Computertomografie
Moderne Fahrzeuge bestehen zu über 50 Prozent aus Kunststoff. Das gleicht das Zusatzgewicht durch immer mehr Sicherheitssysteme zum Teil aus. Zudem war es nie wichtiger, Design, Qualität und Produktentwicklung sowie -optimierung ...
05.04.2020
TopstoriesTopics
inspect award 2021: Bewerbungsphase läuft
Die Bewerbungsphase für den inspect award 2021 hat begonnen. Wie im vergangenen Jahr können nun alle Unternehmen der industriellen Bildverarbeitung und optischen Messtechnik ihre Produkte einreichen – bis einschließlich dem 15. Mai ...
03.04.2020
TopstoriesControl
Präzision und Durchsatz für die Elektronikfertigung
Industrie 4.0, IoT, Cloud Computing, autonomes Fahren, E-Health oder Augmented Reality profitieren von Spitzentechnologien, die die Halbleiter- und Elektronikindustrie derzeit zur Verfügung stellen. Gleichzeitig stellen diese wachsenden ...
13.03.2020
TopstoriesTopics
Funktionsweise und Einsatzbereiche der spektroskopischen Analyse
Dieser Artikel wurde überarbeitet. Sie finden ihn nun hier.
03.03.2020
TopstoriesVision
Künstliche Intelligenz verbessert Kamera-basierte Verkehrsüberwachung
Alle Kennzeichen vorbeifahrender Autos zu erkennen, überforderte ein Kamerasystem. Doch auch die derzeit vielgerühmte künstliche Intelligenz konnte die Aufgabe nicht allein lösen. Es wäre schlicht zu teuer und aufwenig gewesen. Daher ...
27.02.2020
TopstoriesControl
Erkennen und Klassifizieren von Defekten mittels Rasterkraftmikroskopie
Die automatische Defektüberprüfung mithilfe von Rasterkraftmikroskopie visualisiert Defekte in drei Dimensionen mit Nanometerauflösung und qualifiziert sich damit als ideale Technik für die Halbleiterindustrie.

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