21.06.2017
ProdukteControl

Optisches Messsystem zur Messung von Formabweichung und Rauheit

  • Das Multisensorsystem der TopMap Familie ist das Pro.Surf+ und vereint die großflächigen hochauflösenden Oberflächenscans des Weißlichtinterferometers mit einem chromatisch-konokalen Abstandssensor zur Bestimmung von Profillinien, Rauheit oder Textur. Das Multisensorsystem der TopMap Familie ist das Pro.Surf+ und vereint die großflächigen hochauflösenden Oberflächenscans des Weißlichtinterferometers mit einem chromatisch-konokalen Abstandssensor zur Bestimmung von Profillinien, Rauheit oder Textur.

Bei der Produktion mechanischer Präzisionskomponenten möchte man schnell, zuverlässig und genau sowohl Form- als auch Oberflächenparameter bestimmen, möglichst mit einem einzigen Messsystem. Das bewährte Polytec TopMap Pro.Surf Weisslichtinterferometer ist hierfür jetzt in einer neuen Variante mit integriertem Rauheitsmessmodul verfügbar. Das vertikal hochauflösende Weißlichtinterferometer misst großflächig mit einem Bildfeld von bis zu 30x40 mm und kann mit seinem großen Scanbereich von bis zu 70 mm und der telezentrischen Optik selbst in tiefen Bohrungen Formparameter messen. Die jetzt zusätzlich integrierte, lateral hochauflösende chromatisch-konfokale Messtechnik steuert nun auch Rauheitswerte der Oberfläche bei.

Damit wird das TopMap Pro.Surf+ das Präzisionswerkzeug zur schnellen, einfachen und vollständigen Charakterisierung technischer Oberflächen. Und dank seines robusten Designs und schneller Datenerfassung wird es zur zuverlässigen Prüfinstanz sowohl im Messlabor, als auch in der Produktionsumgebung oder direkt in der Fertigungslinie.

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