16.09.2015
News

Zeiss Anwenderforum Messtechnik

Beim diesjährigen ZEISS Anwenderforum Messtechnik am 23. und 24. September in Oberkochen zum Thema „Einflüsse auf die Genauigkeit beim Messen mit Koordinatenmessgeräten“ sollen Besucher alles über neuste Technologien, Applikationen und Messstrategien als auch Methoden und Tools zur Messdatenkorrelation und -auswertung erfahren.

Die weltweit verknüpfte Prozessketten prägen die globale industrielle Produktion. Der Trend zur höheren Produktqualität ist ungebrochen. Die praktische Qualitätssicherung zur Prozess- und Produktoptimierung liefert bereits heute präzise Informationen bezüglich Dimensionen, Formen und Oberflächenqualität.

  • Welche Sensoren eignen sich aber für meine Anwendung?
  • Was lese ich aus den Daten aus?
  • Wie kann die Messtechnik im Netzwerk von Informationen eingebunden werden?

Diese und viele anderen Fragen werden während des diesjährigen ZEISS Anwenderforum Messtechnik zum Thema „Einflüsse auf die Genauigkeit beim Messen mit Koordinatenmessgeräten“ diskutiert. Darüber hinaus erfahren Sie mehr über neuste Technologien, Applikationen und Messstrategien als auch Methoden und Tools zur Messdatenkorrelation und -auswertung.

Informieren Sie sich aus erster Hand über Trends und genießen Sie die informative Fachmesse.
Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme!

Vorträge

Computertomographie – Messen und Messmitteleignung
Prof. Jochen Hiller (Hochschule Deggendorf)

Software für die hochpräzise Flächenrückführung und der Einsatz dieser Techniken zur Beschleunigung des Werkzeugkorrekturprozesses
Winfried Hillenmeyer (Holometric Technologies GmbH)

Genauigkeitsaspekte bei Großportalen unter der Verwendung von langen Tastern
Jürgen Dussling (ZEISS)

Verzahnungsmesstechnik auf Koordinatenmessgeräten
Roman Groß (ZEISS)

KMG-basierte Formmesstechnik
Dr.

Otto Jusko (PTB)

Smarte 2D- und 3D-Inspektion mikroskopisch relevanter Strukturen
Dr. Robert Zarnetta (ZEISS)

ISO 10360: Wie lese und verstehe ich die Spezifikationen von Koordinatenmessgeräten?
Alessandro Gabbia (ZEISS)

Technische Sauberkeit – Großserienkriminalistik in Automobilbau, Medizintechnik und Raumfahrt
Dr. Markus Rochowicz (Fraunhofer)

Neue Definitionen der Geometrischen Produktspezifikation (GPS) - ISO 8015, ISO 14405 und Bezüge - Messen mit ZEISS CALYPSO
Prof. Sophie Gröger (Universität Chemnitz)

7 Tipps, wie Sie Ihren Messprozess beschleunigen
Nadine Schwab (ZEISS)

Fertigungsbegleitende Messung von flachen Bauteilen - Einsatzfeld und Vorteile von digitalen Profilprojektoren
Michael Wieler (ZEISS)

Überwachung und Zwischenprüfung von KMGs – Bedeutung, Nutzen und mögliche Prüfkörper
Thomas Lindner (ZEISS)

Automatisiert Messen und Fertigen ab Losgröße 1
Benjamin Sendler (+GF+ Machining Solution GmbH)

Multisensorik - 3 Sensoren und 3 Tipps
Dr. Dietrich Imkamp (ZEISS)

Workshops

Flexible Spannmöglichkeiten mit ZEISS CARFIT
Marcus Haas (ZEISS)

Effizent Programmieren in ZEISS CALYPSO
Günter Haas (ZEISS)

ZEISS PiWeb - schnelle benutzerdefinierte Reports
Philipp Willier (ZEISS)

Tasterbaukasten
Florian Steinacker (ZEISS)

 

Kontaktieren

Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
Germany
Telefon: +49 3641 64-0
Telefax: +49 3641 64-2941

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