14.10.2013
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Webinar: Analyse durch transparente Schichten

Die opto-digitale Mikroskopie eignet sich für die Analyse durch transparente Schichten. So ist z. B. die Unversehrtheit einer Leiterplatte eine wesentliche Voraussetzung für die Funktionsfähigkeit elektronischer Geräte. Doch wird eine zerstörungsfreie Inspektion häufig durch transparente Schichten behindert, welche die Oberfläche der Leiterbahnen bedecken. Die Laminatschicht verschleiert die darunterliegende Fläche, sodass die herkömmliche optische Mikroskopie kein scharfes Bild liefert.

Die opto-digitale Mikroskopie nutzt die neuesten Entwicklungen auf dem Gebiet der optischen und digitalen Technologien, um dieser Herausforderung zu begegnen. Mikroskoptechniken wie die Beleuchtung mit polarisiertem Licht führen bei der DSX Serie von Olympus dazu, dass Reflexionen von der oberen Laminatschicht weitgehend eliminiert werden, was eine präzise Inspektion der Leiterplatte ermöglicht.

Auch das opto-digitale konfokale 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4100 kann bei der Oberflächeninspektion und -metrologie transparente Schichten durchdringen, wie beispielsweise bei der Analyse einer Leiterbahn unter einer Polyimid-Isolation. Eine akkurate Inspektion und Messung von Rauigkeit und Dicke ist sogar bei mehreren transparenten Schichten möglich, wie sie bei Kunstharz beschichteten Glassubstraten auftreten. Dies ist mit der herkömmlichen Kontaktprofilometrie nicht zu bewerkstelligen.

Durch die opto-digitalen Mikroskope werden moderne Mikroskopietechniken Anfängern wie auch Experten zugänglich. Dank der einfachen Bedienbarkeit können Anwender ihr gesamtes Augenmerk auf die Inspektionsaufgabe richten. Mit einem breiten Spektrum unterschiedlicher Funktionen eignen sich opto-digitale Technologien optimal für das Management ganzer Arbeitsabläufe in der industriellen Qualitätsprüfung. Die Schnelle und intuitive Bedienbarkeit bewirkt eine rationelle Durchführung der unterschiedlichen Arbeitsschritte beim Imaging, Messen und Erstellen von Berichten.

Nehmen Sie am Webinar "Benefits of opto-digital microscopes for industrial inspection" teil, das am 24. Oktober um 16:00 Uhr (MEZ) stattfindet.

Miriam Schwentker von Olympus wird die Vorzüge der opto-digitalen Mikroskopie für die Oberflächeninspektion und -metrologie im Bereich der industriellen Qualitätsprüfung erläutern. Zu dem Thema haben wir auch bereits ein englischsprachiges Whitepaper bereit gestellt, dass man sich kostenlos herunterladen kann.

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