06.09.2020
News

E-Book zu optischer Metrologie – Anwendungen in der Materialforschung

Kooperation zwischen Wiley und Olympus

  • Advanced Optical Metrology bietet Ihnen ausführliche Informationen über Methoden und Anwendungen im F&E-Bereich der optischen Metrologie. (Foto: Wiley/Olympus)Advanced Optical Metrology bietet Ihnen ausführliche Informationen über Methoden und Anwendungen im F&E-Bereich der optischen Metrologie. (Foto: Wiley/Olympus)

Dünnschichten, Sensoren, "Wearable Electronics" und vieles mehr - Advanced Optical Metrology bietet ausführliche Informationen über Methoden und Anwendungen im F&E-Bereich der optischen Metrologie. Unter dem Motto "Science meets Technology" arbeiten Wiley und Olympus zusammen, um diese ständig wachsende Plattform mit kuratierten und sorgfältig ausgewählten Inhalten aufzubauen. Dieses Kooperationsprojekt wird die Informationsflut in diesem Forschungsgebiet ordnen und alle relevanten Informationen gezielt aufbereiten, um den Dialog zwischen Grundlagenforschung und industriellen Anwendungen zu verbessern.

Folgende E-Books stehen bereits zum Download bereit:

  • Thin Film Metrology: In diesem 43-seitigen eBook folgen auf eine Einleitung zum Einsatz der konfokalen Lasermikroskopie in der Materialforschung drei Kompaktversionen aktueller Forschungsartikel zur Herstellung, Charakterisierung und Anwendungsmöglichkeiten von Dünnschichten. Darüber hinaus liefern eine Infografik und der erste Artikel zum Thema "Scientific Publishing" wertvolle Tipps zum Erstellen wissenschaftlicher Veröffentlichungen.
  • Additive Fertigung: Vier "Digest"-Artikel aktueller Studien geben Einblicke in Methoden des 3D-Drucks wie das Elektronenstrahlschmelzen und verschiedene Lithographietechniken.

 

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Olympus Deutschland GmbH
Amsinckstraße 63
20097 Hamburg
Germany
Telefon: +49 40 23773 0
Telefax: +49 40 23376 5

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