03.12.2014
Whitepaper

Profilprüfung ab CAD - Oberflächeninspektion im Hell- und Dunkelfeld

Während der Vision hielt Stefan Basig, Compar, einen Vortrag über das Thema: Profilprüfung ab CAD - Oberflächeninspektion im Hell- und Dunkelfeld. Den Vortrag finden sie hier in voller Länge. Viel Spaß beim Lesen.

Auf der Leitmesse Vision in Stuttgart präsentierten sich erstmals Lösungsanbieter und Integratoren auf dem inspect application Forum - viele davon sprachen gezielt auch Endanwender an. Mit spannenden Vorträgen baute es eine Brücke zwischen Endanwendern und Integratoren sowie Lösungsanbietern und förderte so die Kontaktaufnahme. Unter anderem standen Bildverarbeitungslösungen für die Fertigungsautomatisierung im Rampenlicht.

 

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