23.07.2010

Polarisierende Technik

Ob Silizium-Halbleiterherstellung, Korrosionsanalyse oder archäologische Untersuchungen: In immer mehr Anwendungsbereichen wird die Oberflächen-Metrologie zur Analyse der Topologie von Materialen verwendet. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, mit dem sich selbst kleinste Details exakt und wiederholt darstellen lassen: ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop. mehr11.06.2010

Gute Qualität?

Im Nah-Infrarot-Bild (900 nm ... 2.200 nm) lassen sich Objekte unterscheiden, die sich im Sichtbaren gleichen und so Qualitätsmerkmale erkennen, die ansonsten unsichtbar bleiben. Bisherige NIR-Bild-Aufnehmer waren jedoch teuer, das Auflösungsvermögen war gering, das Rauschen hoch und die Handhabung umständlich. Jetzt gibt es neue Entwicklungen: Sensoren, die auf dem Detektormaterial Indium-Gallium-Arsenid basieren und Daten mittels CMOS-Technologie auslesen. mehr02.06.2010

Im Beschleuniger

Derzeit wird am Heidelberger Krebs­forschungszentrum ein Beschleuniger aufgebaut, der Hirntumore mit Schwer­ionenstrahlung bekämpft. Die dafür entwickelte Beschleunigerkammer ist jedoch so komplex aufgebaut, dass die Verantwortlichen lange keinen ­Fertigungsbetrieb finden konnten, der die Edelstahl-Schweißkonstruktion herstellt. Denn die Schweißstellen sind nur schwer zugänglich. mehr01.12.2009

Klein, kleiner, piko

Miniaturisierte Lichtprojektoren ­bezeichnet die Fachwelt als Pico-­Projektoren. Sie werden in der ­industriellen Messtechnik als ­optische 3D-Sensoren
eingesetzt und vermessen beispielsweise das Innen­dekor von Fahrzeugen oder die 3D-Struktur von Zerspannungs-Werkzeugen.

Filme kann man jetzt auch am Handy anschauen. Möglich ist das, weil Texas Instruments Multimedia-Projektoren so weit miniaturisiert hat, dass Samsung sie in seine Handys verbauen kann. Die ersten Mobiltelefone mit integrierten Pico-Projektoren sind bereits auf dem Markt. mehr01.12.2009

Licht-Botschaften

Empfindliche Infrarot-Kameras auf InGaAs-Basis detektieren die schwache Elektro­lumineszenz-Strahlung von Dünnschicht-­Solarzellen. Diese emittieren Photonen aufgrund einer extern angelegten Vorspannung und lassen darüber Rückschlüsse auf die Qualität der Solarzellen zu. Damit lassen sich beispielsweise Mikrorisse und Verunreinigungen der Halbleiterschichten räumlich aufgelöst erfassen.

Traditionelle Solarzellen auf Basis von Silizium-Wafern sind deutlich besser erforscht als Dünnschicht-Solarzellen. mehr12.11.2009

Sanftes Leuchten

Der Photovoltaik-Markt rechnet bereits ab 2010 wieder mit hohen Wachstumsraten. Dieses Wachstum wird mit der Anforderung nach höherer Produktqualität bei gleichzeitiger Re­duktion der Herstellungskosten einhergehen. Die Kostenreduzierung wird nicht zuletzt aus einer Erhöhung der Produktionsausbeute erwartet. Dazu kann die Inspektion von Photovoltaik-Zellen und Modulen über die Elektrolumineszenz-Messung einen erheblichen Beitrag leisten. mehr12.11.2009

Wohltätig ist des Feuers Macht, wenn sie der Mensch bezähmt, bewacht …

Die Anforderungen an die dimensionelle Genauigkeit von Gussteilen und an ihre Werkstoffkennwerte steigen seit Jahren kontinuierlich - in der Luft- und Raumfahrtindustrie ebenso wie in den Bereichen Automotive oder Anlagentechnik. Dennoch wird Mess- und Prüftechnik zum Teil noch immer als mögliche Bremse für die Fertigung oder als zusätzlicher Kosten­faktor betrachtet. mehr12.11.2009

Ingots unter Kontrolle

Für die Fertigung von Solarzellen und -modulen werden Wafer, dünner als 800 µm, verwendet. Dazu werden Ingot genannte Silizium-Blöcke in Scheiben gesägt. Um nur passgenaue Wafer zu produzieren wird der Ingot noch vor dem Sägen vermessen. Ein automatisches Mess­system übernimmt jetzt die Aufgabe, die Geometrie des Ingots zu überprüfen. Die Ergebnisse sind schnell verfügbar, zuverlässig und reproduzierbar - im Gegensatz zur bisherigen manuellen Prüfung. mehr