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Speziallinse

Inspektion mit Speziallinse für parallaxenfreie Prüfung
22.06.2010

Inspektion mit Speziallinse für parallaxenfreie Prüfung

Mit dem neuen Inline-Inspektionssystem S1 trägt der Hersteller modus high-tech electronics, Willich, dem Bedarf an schneller und fehlerfreier Analyse übergroßer Baugruppen Rechnung. Das System erschließt nun neue Dimensionen, denn es sind mit einem Scanbereich von 420 x 550 mm erstmals Formate bis DIN A2 prüfbar. Große Bauteile können in einem Durchgang inspiziert werden; umständliche Umbauten sind nicht mehr notwendig. Verfügbar sind Ausführungen für die Inspektion von oben, von unten sowie als Doppelvariante zur gleichzeitigen Inspektion beider Leiterplattenseiten. mehr
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