08.04.2011

Werth: Konfokale Sensorik im Koordinatenmessgerät

Werth Messtechnik bietet mit dem NanoFocusProbe NFP einen konfokalen Flächensensor in Multisensor-Koordinatenmessgeräten an. Der NanoFocusProbe NFP wird zur flächenhaften Messung von Geometrie, Form und Rauheit an Mikrostrukturen eingesetzt, aber auch Schneidkantenradien an Werkzeugen oder Schichtdicken können gemessen werden. mehr23.07.2010

Polarisierende Technik

Ob Silizium-Halbleiterherstellung, Korrosionsanalyse oder archäologische Untersuchungen: In immer mehr Anwendungsbereichen wird die Oberflächen-Metrologie zur Analyse der Topologie von Materialen verwendet. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, mit dem sich selbst kleinste Details exakt und wiederholt darstellen lassen: ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop. mehr13.11.2009

Schneider Kreuznach vermarktet Reflektometer von AudioDev

Schneider-Kreuznach vermarktet ab sofort europaweit und exklusiv das Reflektometer ETA-ARC-AT von AudioDev. Es erlaubt die zerstörungsfreie Messung der spektralen Reflektivität an gekrümmten Oberflächen in weniger als einer Sekunde. Die Messungen sind an jedem Ort der Oberfläche möglich, d.h. es gibt keine Messbeschränkung auf die Linsenmitte. Besondere Eigenschaften sind die hohe Absolutgenauigkeit von bis zu 0,04 % sowie die Spektralbereiche 380 bis 1050 nm oder 850 bis 1700 nm. Die Messung der Dicke von Einzelschichten ist möglich, auch der von Kittschichten. mehr