Bis vor wenigen Jahren war der einzige Weg, das Innere einer Probe mit Submikrometer-Auflösung zu analysieren, das Zerschneiden und Mikroskopieren der Probe. Dies ist nicht nur zeitaufwändig, sondern führt natürlich auch zur Zerstörung des Untersuchungsobjekts. In den vergangenen Jahren hat die industrielle Computertomographie (CT) gewaltige Fortschritte bezüglich immer höherer Auflösungen und immer höherer Rekonstruktionsgeschwindigkeiten der 3D-Volumendaten gemacht.
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Mit der neuen Software phoenix datos|x 2.0 stellt GE Sensing & Inspection Technologies eine neue Generation von CT-Software für noch schnellere, einfachere und präzisere CT-Messungen vor. Dank fortschreitender Automatisierung des Scan- und Auswertungsprozesses wird es möglich, die komplette Erstbemusterung eines komplexen Werkstückes vom Einlegen in den Tomographen bis zum fertigen Messprotokoll in normalerweise weniger als 60 Minuten durchzuführen.
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Die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies ermöglicht mit ihren neuesten Hard- und Softwarelösungen schnellere und präzisere CT-Messungen. Dank fortschreitender Automatisierung des Scan- und Auswertungsprozesses ist die Erstbemusterung eines komplexen Werkstückes vom Einlegen in den Tomographen bis zum fertigen Messprotokoll in weniger als 60 Minuten möglich.
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phoenix|x-ray präsentiert das hochauflösende Röntgeninspektionssystem microme|x. Erstmalig sind in einem System sämtliche Austattungsmerkmale für eine umfassende Baugruppeninspektion vereint. So verfügt der microme|x über eine extragroße Durchlichtfläche von 20“x 24“, eine hochpräsize Manipulationseinheit mit 360 ° Rotationsachse und das bewährte ovhm-Modul für Schrägdurchstrahlung bis 70 ° bei gleich bleibender Vergrößerung. Der besondere Kundennutzen liegt in der Kombination dieser Merkmale – somit kann der Benutzer auch bei einem großen Nutzen mit gemischter Bestückung bspw.
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