03.02.2012

Olympus: Neue Digital-Farbkamera

Olympus stellt mit der SC100 eine neue Digital-Farbkamera vor. Der 10,5-Megapixel-Sensor der SC100 ermöglicht die Darstellung der Objekte bis ins winzigste Detail, insbesondere wenn ein schwach vergrößerndes Objektiv verwendet wird. Somit besteht keine Notwendigkeit mehr, mehrere stark vergrößerte Aufnahmen eines Objektes zusammenzusetzen, um die Auflösung zu erhalten. mehr10.11.2011

Neue Version von Olympus Stream

Olympus hat eine neue Version der Software Olympus Stream für die Optimierung mikroskopischer Analysen im industriellen Bereich vorgestellt. Funktionen wie das schnelle "Extended Focal Imaging" (EFI) und das manuelle "Multiple Image Alignment" (MIA) erweitern die verfügbaren Imaging-Möglichkeiten und beschleunigen die Abbildung großer Proben. Mit der Funktion instant EFI lässt sich mit wenig Aufwand ein tiefenscharfes Bild der Probe erstellen. Damit soll instant EFI für die Dokumentation stark strukturierter Objekte und Objektoberflächen geeignet sein. mehr23.07.2010

Polarisierende Technik

Ob Silizium-Halbleiterherstellung, Korrosionsanalyse oder archäologische Untersuchungen: In immer mehr Anwendungsbereichen wird die Oberflächen-Metrologie zur Analyse der Topologie von Materialen verwendet. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, mit dem sich selbst kleinste Details exakt und wiederholt darstellen lassen: ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop. mehr13.07.2010

Widerstandsfähig, handlich und selbsterklärend

Olympus Deutschland führt das neue industrielle Videoskop-System Iplex MX II ein. Dieses System erlaubt Anwendern mit beliebiger Praxiserfahrung eine einfache, bequeme und präzise Durchführung unterschiedlichster Inspektionen. Das kompakte Iplex MX II ist in den Abmessungen ca. 30 % kleiner und auch leichter als sein Vorgänger Iplex MX R. Die Hauptmerkmale sind ein robustes ToughTaperedFlex-Einführungsteil mit überlegener Haltbarkeit, ein 6,5 Zoll großer LCD-Bildschirm der eine außergewöhnlich gute Sichtbarkeit und Bilddarstellung erlaubt sowie die vielseitigen System-Funktionen wie z. B. mehr11.06.2010

Test-Charts für industrielle Endoskopie

Ab sofort bietet Olympus Nutzern von industriellen Endoskopen die Möglichkeit, sich kostenlos eines der Test-Charts für die industrielle Endoskopie anzufordern. Die Anwender haben die Möglichkeit, die Bildauflösung ihres Gerätes oder Systems zu ermitteln und nachzuweisen. Zudem ermöglicht das Test-Chart die Schärfeeinstellung des Endoskops zu bestimmen. Die Anforderung des Test-Charts ist unter ims@olympus.de (Stichwort: Test-Chart) bei Olympus möglich. mehr07.06.2010

Schulungen für Hochgeschwindigkeits-Kameratechnik und Endoskopie

Für Mitarbeiter ist es wichtig mit der zunehmenden Technologisierung Schritt zu halten. Dafür ist eine kontinuierliche Weiterbildung erforderlich. Es handelt sich letztendlich um Investitionen in die Zukunft der Unternehmen. Auch in 2010 bietet das Olympus Industrial Training Center intensive Schulungen für die Bereiche industrielle Endoskopie und für Applikationen mit Hochgeschwindigkeits-Kamerasystemen an. Immer komplexer werdende Anwendungen - sowie die damit verbundenen Sorgenkinder in der industriellen Endoskopie - erfordern intensive, in die Tiefe gehende, fachliche Kenntnisse. mehr07.04.2010

Software-Lösungen für Materials-Science-Anwendungen

Die Produktfamilie für die bildanalytischen Aufgaben im Bereich der Materialinspektion, Olympus Stream ist in fünf Ausbaustufen erhältlich. Die Software ermöglicht digitale Bildaufzeichnung, Bildverarbeitung, Vermessung und Analyse, Datenmanagement und -archivierung, sowie eine umfassende Berichterstellung. Der modulare Aufbau sorgt für Flexibilität und führt dank der strukturierten Abläufe auch ohne extensives Training und tiefergehendes Verständnis hinsichtlich Auswertung und Norm direkt zum Ergebnis. mehr01.03.2010

Neue hochauflösende Hellfeld-Objektive

Die neuen plan-apochromatischen Objektive der Mplapon-Reihe korrigieren chromatische Abberationen bei material-wissenschaftlichen Anwendungen. Sie sind Teil der UIS-Serie von Olympus und mit 50x- bzw. 100x-Vergrößerung erhältlich. Die speziell für Hellfeld-Imaging - inklusive DIC - entwickelten Modelle bieten eine numerische Apertur (N.A.) von 0,95. Sie ermöglichen die Aufnahme hochaufgelöster Bilder und empfehlen sich daher für die Inspektion kleinster Bereiche industrieller Proben, wie z.B. Halbleitermuster. mehr