Unter dem Markennamen trevista präsentiert OBE Ohnmacht & Baumgärtner auf der diesjährigen Control in Stuttgart die gesamte Produktpalette des Bildverarbeitungs-Systems zur Oberflächenkontrolle.
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Optische 3D-Analyseverfahren werden immer leistungsfähiger und dringen in viele Bereiche der Qualitätskontrolle vor. Viele Inspektionsaufgaben, die sich mit etablierten 2D-Verfahren nicht hinreichend lösen lassen, sind durch Nutzung der 3. Dimension technologisch beherrschbar. mehr
Ob Silizium-Halbleiterherstellung, Korrosionsanalyse oder archäologische Untersuchungen: In immer mehr Anwendungsbereichen wird die Oberflächen-Metrologie zur Analyse der Topologie von Materialen verwendet. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, mit dem sich selbst kleinste Details exakt und wiederholt darstellen lassen: ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop.
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Vor der Weiterverarbeitung wird die Qualität der Oberfläche gegossener Teile geprüft. Die dafür am Markt verfügbaren Messverfahren sind für Inline-Prüfungen entweder zu langsam oder für die häufigen Produktwechsel nicht flexibel genug, so Edixia, der Hersteller für Inspektionssysteme. Daher bietet das Unternehmen eine Technologie an, die Oberflächen innerhalb ihrer Produktzykluszeiten scannt und diese mit Hilfe von Bildanalyseverfahren auswertet. Auf diese Weise können nicht nur Oberflächen in Echtzeit kontrolliert werden, auch die Objekt-Geometrie ist schnell vermessen.
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Die Produktion und Oberflächenveredelung von Platten und Bahnwaren jeder Art wie Glas, Kunststoffe, sowie Bahnwaren wie Folien, Bleche, Papier und Laminate erfolgt oft in sehr hoher Geschwindigkeit. Der Ausschuss von fehlerbehaftetem Material schlägt sich hier schnell in hohen Kosten nieder und Maschinenstillstandszeiten sind in diesem Produktionsumfeld besonders kostenintensiv. Deshalb gilt es die Fehler und deren Ursachen so früh wie möglich vor dem nächsten Schritt der Wertschöpfung zu erkennen um die Prozessregelkette nachhaltig zu optimieren.
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