Haarfeine Risse zu erkennen, das ist eine Herausforderung. Bei Silizium-Wafern allerdings ist es notwendige Bedingung, damit PV-Anlagen zuverlässig funktionieren. Mit einem neu entwickelten Verfahren können neben großen Defekten auch feine Risse mit einer Breite von unter 20 µm in der Siliziumschicht detektiert werden - und das bei einer Produktionsgeschwindigkeit von 10 Metern pro Minute.
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Der Photovoltaik-Markt rechnet bereits ab 2010 wieder mit hohen Wachstumsraten. Dieses Wachstum wird mit der Anforderung nach höherer Produktqualität bei gleichzeitiger Reduktion der Herstellungskosten einhergehen. Die Kostenreduzierung wird nicht zuletzt aus einer Erhöhung der Produktionsausbeute erwartet. Dazu kann die Inspektion von Photovoltaik-Zellen und Modulen über die Elektrolumineszenz-Messung einen erheblichen Beitrag leisten.
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