Die Inspektion von Oberflächen ist ein klassisches Arbeitsgebiet der industriellen Bildverarbeitung und bewährt sich seit vielen Jahren in mannigfachen Anwendungen. Die Fortschritte der Technik ermöglichen nicht nur ständig höhere Prüfgeschwindigkeiten und kompaktere Bauweisen, sondern auch die Erfassung zusätzlicher Oberflächeneigenschaften. So können nicht nur zweidimensional aufgenommene Texturen ausgewertet werden, die neuen Verfahren ermöglichen auch die dreidimensionale Vermessung der Oberflächentopographie im Nanometerbereich. Darüber hinaus gelingt die schnelle Bewertung farbiger, gemusterter, transparenter oder stark reflektierender Oberflächen.

Das Seminar »Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung«, Donnerstag, 9. Dezember, und Freitag, 10. Dezember 2010, am Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB in Karlsruhe, vermittelt einen Überblick über den aktuellen Stand der Technik und gibt einen Ausblick auf zukünftige Entwicklungen.